SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射线荧光光谱仪SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件,可获得*佳的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保*佳激发,12位样品自动交换器,预先安装好的应用软件包和智能软件模块,德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。技术参数：
激发- Mo 靶X光管zui大功率：30W,zui大电压：48kV- 测量点尺寸Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm样品室- 可显示样品的摄像系统(可调焦)- 手动调节样品台，样品定位简便- 马达驱动精确移动的XYZ样品台，zui大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)，zui大样品重量：3kg/6.6 lbs计算机- 外置式计算机系统，Windows操作系统，- 键盘，鼠标，显示器，打印机- 菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算，元素成分及分布显示检测器- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2- 以Mn Kα线，在测量计数率为10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV- 微处理器控制的检测器和读出电路- 脉冲计数率可达250，000 cps光谱仪数据- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz,- 光谱仪能耗：200W- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置分析- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +- 塑料及复合材料的RoHS指令检测环境条件- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F）在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘.
SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得*佳的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保*佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。
SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。
XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令。 |
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